電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝置 型號(hào)：WSG-1
儀器介紹：
本實(shí)驗(yàn)裝置主要是面向本科教學(xué)使用的。本實(shí)驗(yàn)使用激光光束直接照射到測試物表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型、先進(jìn)的測試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的辦法。
主要特點(diǎn)：
·利用了最新處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)
·計(jì)算機(jī)處理圖像，且軟件操作簡便易懂
·可利用軟件生成測試表面受力變形后的三維立體圖
儀器成套性：
CCD攝像頭，氦氖激光器，圖像采集卡，圖像處理程序，精密調(diào)整架，光學(xué)零件，被測樣品
